Fraunhofer CSP und HTWK Leipzig entwickeln neues Testverfahren für Photovoltaikwafer

Das standardisierte Verfahren erleichtert die Qualitätskontrolle in der Solarindustrie

© Foto Fraunhofer CSP/Cornelia Dietze

tephan Schönfelder (links) von der HTWK Leipzig und Felix Kaule vom Fraunhofer CSP am 4-Punkt-Biegeversuch mit einem polykristallinen Siliziumwafer/ © Foto Fraunhofer CSP/Cornelia Dietze